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近場掃描測量設(shè)備
在設(shè)計(jì)的早期階段使用 EMC 掃描儀，您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產(chǎn)品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。
FLS 106 PCB set 三軸定位PCB掃描儀
FLS 106 PCB set
FLS 106 PCB掃描儀是一個(gè) 3 軸定位系統(tǒng)，結(jié)合近場探頭使用，可以測量高達(dá) 20 GHz 的磁場或電場，并能通過磁場源對被測設(shè)備施加脈沖，脈沖場強(qiáng)高達(dá)200 mT。
使用 SX、RF、XF 或 LF 系列近場探頭的掃描儀可以在 100 kHz 至 20 GHz 的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行測量。
FLS 106 PCB 掃描儀由 ChipScan-Scanner 軟件控制?？梢酝瑫r(shí)從頻譜分析儀讀取測量值，并可圖形表示（2D 或 3D）、測量數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)和輸出（CSV 數(shù)據(jù)文件）。
FLS 106 PCB 掃描儀可通過增加旋轉(zhuǎn)裝置升級(jí)為 4 軸定位系統(tǒng)。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
BAT-Scanner大型3D可視化EMI近場掃描測試系統(tǒng)
BAT-Scaner
針對小型EUT、PCB板級(jí)或IC級(jí)的輻射發(fā)射測量，近場掃描是一種應(yīng)用范圍較為廣泛的方法，BAT-Scanner正式基于此開發(fā)設(shè)計(jì)，是世界首款與IEC61967-1-1標(biāo)準(zhǔn)兼容的3D可視化EMI測試解決方案。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
高分辨率掃描儀
HRE系列
【廠家】 瑞士PENDULUM
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
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