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近場(chǎng)掃描測(cè)量設(shè)備
在設(shè)計(jì)的早期階段使用 EMC 掃描儀，您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產(chǎn)品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測(cè)到它們。
EMC 掃描儀
SCN 系列
利用電磁兼容診斷工具，我們可以精確的定位產(chǎn)品的輻射源和敏感點(diǎn)的位置、精確的分析傳導(dǎo)發(fā)射中的共模和差模成分、并可以對(duì)關(guān)鍵IC的電磁兼容特性進(jìn)行評(píng)估，從而比較容易的找到問題的根本點(diǎn)。
【廠家】 瑞士PENDULUM
【產(chǎn)品分類】 測(cè)試與儀器 - 電磁兼容測(cè)試 - 近場(chǎng)掃描測(cè)量設(shè)備
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