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近場(chǎng)掃描測(cè)量設(shè)備
在設(shè)計(jì)的早期階段使用 EMC 掃描儀，您可以在潛在的輻射和抗擾度問(wèn)題集成到產(chǎn)品中并且糾正成本高昂的問(wèn)題之前檢測(cè)到它們。
RF1 set 近場(chǎng)探頭組
RF1 set
RF 1近場(chǎng)探頭組包含4個(gè)無(wú)源近場(chǎng)探頭，用于在研發(fā)階段測(cè)量電子模塊上的電場(chǎng)和磁場(chǎng)，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF 1探頭組的探頭，可以實(shí)現(xiàn)緊貼電子模塊測(cè)量，比如貼近單個(gè)IC引腳、導(dǎo)線、元器件及其連接點(diǎn)測(cè)量，從而定位干擾信號(hào)源。通過(guò)相應(yīng)地操作近場(chǎng)探頭，能夠測(cè)量出電子模塊上電磁場(chǎng)的方向及其分布。這種近場(chǎng)探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。
這種近場(chǎng)探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部沒(méi)有安裝50Ω終端電阻。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測(cè)試與儀器 - 電磁兼容測(cè)試 - 近場(chǎng)掃描測(cè)量設(shè)備
25KHz單通道光纖探頭
A100-1 set
A100-1把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號(hào)顯示到示波器上。在檢測(cè)電力或電子設(shè)備對(duì)高頻電磁場(chǎng)（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時(shí)，該系統(tǒng)特別適合于檢測(cè)模擬信號(hào)。
對(duì)電磁場(chǎng)進(jìn)行給定的調(diào)制時(shí)會(huì)對(duì)模擬信號(hào)產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號(hào)測(cè)量系統(tǒng)能夠快速識(shí)別到這些影響。
該探頭包含一個(gè)傳感器，這個(gè)傳感器測(cè)量受測(cè)物中的模擬信號(hào)，并把測(cè)得的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為光信號(hào)。光信號(hào)通過(guò)光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電子模擬信號(hào)。示波器可以顯示這些信號(hào)，或用它們來(lái)控制其他設(shè)備。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測(cè)試與儀器 - 電磁兼容測(cè)試 - 近場(chǎng)掃描測(cè)量設(shè)備
25KHz雙通道光纖探頭
A100-2
A100-2把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號(hào)顯示到示波器上。在檢測(cè)電力或電子設(shè)備對(duì)高頻電磁場(chǎng)（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時(shí)，該系統(tǒng)特別適合于檢測(cè)模擬信號(hào)。
對(duì)電磁場(chǎng)進(jìn)行給定的調(diào)制時(shí)會(huì)對(duì)模擬信號(hào)產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號(hào)測(cè)量系統(tǒng)能夠快速識(shí)別到這些影響。
該探頭包含一個(gè)傳感器，這個(gè)傳感器測(cè)量受測(cè)物中的模擬信號(hào)，并把測(cè)得的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為光信號(hào)。光信號(hào)通過(guò)光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電子模擬信號(hào)。示波器可以顯示這些信號(hào)，或用它們來(lái)控制其他設(shè)備。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測(cè)試與儀器 - 電磁兼容測(cè)試 - 近場(chǎng)掃描測(cè)量設(shè)備
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