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RF1 set 近場探頭組
RF1 set
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RF 1近場探頭組包含4個無源近場探頭，用于在研發(fā)階段測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF 1探頭組的探頭，可以實現(xiàn)緊貼電子模塊測量，比如貼近單個IC引腳、導(dǎo)線、元器件及其連接點(diǎn)測量，從而定位干擾信號源。通過相應(yīng)地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部沒有安裝50Ω終端電阻。
廠家
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產(chǎn)品分類
主要構(gòu)成部分：
- RF-K 7-4磁場探頭（30MHz-3GHz）
- RF-K 7-4型近場探頭能夠測量反向進(jìn)入探頭的環(huán)形磁場線。這類磁場線通常出現(xiàn)于導(dǎo)線、棒形結(jié)構(gòu)、電纜接頭和扁平單元的邊緣等。該探頭的工作方式類似于電流耦合鉗
- RF-U 2.5-2, 磁場探頭（30MHz-3GHz）
- RF-U 2.5-2型磁場探頭是一個近場探頭，用于檢測導(dǎo)線、元件引腳、SMD組件和集成電路引腳中的射頻電流
- 這個探頭頂端有一個約0.5mm寬的磁場敏感缺口，測試時將這個缺口放在被測對象上
- RF-R 3-2, 磁場探頭（30MHz-3GHz）
- RF-R 3-2型近場探頭，分辨率高，用于直接檢測電子組裝件上的射頻磁場，例如引腳區(qū)域、集成電路外殼、導(dǎo)線、旁路電容器和電磁兼容性（EMC）元件等的磁場
- RF-E 10, 電場探頭（30MHz-3GHz）
- RF-E 10型電場探頭的電極位于探頭下邊，約0.2mm寬，可以定位最小的電場源，例如0.1mm寬的導(dǎo)線，高引腳數(shù)集成電路的單個引腳
相關(guān)產(chǎn)品
25KHz單通道光纖探頭
A100-1 set
A100-1把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設(shè)備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統(tǒng)特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進(jìn)行給定的調(diào)制時會對模擬信號產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統(tǒng)能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
25KHz雙通道光纖探頭
A100-2
A100-2把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設(shè)備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統(tǒng)特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進(jìn)行給定的調(diào)制時會對模擬信號產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統(tǒng)能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
500KHz單通道光纖探頭
A200-1 set
在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號，可以借助A200-1零電勢地顯示到示波器上，A200-1探頭包含一個傳感器，能夠快速識別到受干擾的信號。該傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。該系統(tǒng)適合在吸收室內(nèi)監(jiān)測試樣，或用于優(yōu)化軟硬件的電磁兼容性。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
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