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BAT-Scanner大型3D可視化EMI近場掃描測試系統(tǒng)
BAT-Scaner
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針對小型EUT、PCB板級或IC級的輻射發(fā)射測量，近場掃描是一種應(yīng)用范圍較為廣泛的方法，BAT-Scanner正式基于此開發(fā)設(shè)計，是世界首款與IEC61967-1-1標準兼容的3D可視化EMI測試解決方案。
廠家
.
產(chǎn)品分類
應(yīng)用范圍：
PCB、IC、小尺寸產(chǎn)品的輻射發(fā)射測量、研發(fā)定位、整改。
主要特點：
? 對EUT拍照，進而可定義多個測試區(qū)域或測試高度
? 三維（3D）掃描，掃描順序可調(diào)，掃描速度可調(diào)
? 測量數(shù)據(jù)及3D結(jié)果實時顯示，完整數(shù)據(jù)3D顯示
? 矢量測量（可選）
? 電磁兼容診斷,精確定位騷擾源，快速調(diào)整設(shè)計
? EMC分析建模、數(shù)字仿真
詳細技術(shù)參數(shù)：
? 測量頻率范圍：6GHz
? 測量體積：370(L)*370(W)*455(H)mm
? 圖像像素：4912x3684 (4K高清)
? 測試掃描方式：Single／Free Run／Peak Hold/QP/AVG
? 掃描區(qū)域：可通過畫框圖的方式任意設(shè)定掃描區(qū)域， 可以多區(qū)域掃描
? 適用產(chǎn)品范圍：元器件、PCB板， 小產(chǎn)品
? 測量結(jié)果格式：與IEC61967-1-1標準兼容
PCB、IC、小尺寸產(chǎn)品的輻射發(fā)射測量、研發(fā)定位、整改。
主要特點：
? 對EUT拍照，進而可定義多個測試區(qū)域或測試高度
? 三維（3D）掃描，掃描順序可調(diào)，掃描速度可調(diào)
? 測量數(shù)據(jù)及3D結(jié)果實時顯示，完整數(shù)據(jù)3D顯示
? 矢量測量（可選）
? 電磁兼容診斷,精確定位騷擾源，快速調(diào)整設(shè)計
? EMC分析建模、數(shù)字仿真
詳細技術(shù)參數(shù)：
? 測量頻率范圍：6GHz
? 測量體積：370(L)*370(W)*455(H)mm
? 圖像像素：4912x3684 (4K高清)
? 測試掃描方式：Single／Free Run／Peak Hold/QP/AVG
? 掃描區(qū)域：可通過畫框圖的方式任意設(shè)定掃描區(qū)域， 可以多區(qū)域掃描
? 適用產(chǎn)品范圍：元器件、PCB板， 小產(chǎn)品
? 測量結(jié)果格式：與IEC61967-1-1標準兼容
相關(guān)產(chǎn)品
RF1 set 近場探頭組
RF1 set
RF 1近場探頭組包含4個無源近場探頭，用于在研發(fā)階段測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF 1探頭組的探頭，可以實現(xiàn)緊貼電子模塊測量，比如貼近單個IC引腳、導(dǎo)線、元器件及其連接點測量，從而定位干擾信號源。通過相應(yīng)地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部沒有安裝50Ω終端電阻。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
25KHz單通道光纖探頭
A100-1 set
A100-1把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設(shè)備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統(tǒng)特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進行給定的調(diào)制時會對模擬信號產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統(tǒng)能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
25KHz雙通道光纖探頭
A100-2
A100-2把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設(shè)備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統(tǒng)特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進行給定的調(diào)制時會對模擬信號產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統(tǒng)能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
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