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30MHz-6GHz近場探頭組
XF1 set
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使用XF 1系列的探頭，可以逐步辨識電子模塊中的干擾磁場源。例如，首先用XF-R 400-1型探頭檢測電子模塊總體發(fā)射出的干擾場，然后再用高分辨率探頭更準(zhǔn)確地識別干擾源。電場探頭用于檢測電子模塊表面的干擾電場。
通過相應(yīng)地操作近場探頭，能夠測量出電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并采用外皮電流衰減。磁場探頭采用電屏蔽設(shè)計(jì)。這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場探頭的內(nèi)部安裝有終端電阻。
廠家
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產(chǎn)品分類
主要技術(shù)參數(shù)：
? 頻率范圍：30 MHz ... 6 GHz
? 接口：SMA, male, jack
? 重量：400 g
交付內(nèi)容
XF-R 400-1磁場探頭 因較大的直徑（25mm）而擁有很高的靈敏度，允許在10cm以內(nèi)的距離測量模塊和設(shè)備。
XF-R 3-1型近場探頭： 用于高分辨率直接檢測組件上，譬如IC的引腳或外殼、布線、旁路電容器和電磁兼容性（EMC）元件等區(qū)域的射頻磁場。
XF-B 3-1型磁場探頭的測量線圈相對垂直于探頭柄。當(dāng)探頭豎直放置到電路板上時(shí)，其測量線圈直接平放在電路板的表面上。由此就能夠測量到印刷電路板表面上很難達(dá)到的一些位置，如開關(guān)調(diào)節(jié)器的大元件之間的位置。
XF-E 10型電場探頭底面的電極僅有約0.2mm寬，用于定位最小的電場，例如0.1mm寬的導(dǎo)線、高針數(shù)集成電路的單個(gè)引腳等發(fā)射的電場。測試時(shí)將該電場探頭放置在受測物體上。
XF-U 2.5-1型磁場探頭是一個(gè)近場探頭，用于選擇性測量導(dǎo)線、SMD組件和IC引腳中的高頻電流。這個(gè)探頭有一個(gè)大約0.5mm寬的磁場敏感缺口，測量時(shí)將這個(gè)缺口放在布線、IC或者電容器的連接點(diǎn)上。
? 頻率范圍：30 MHz ... 6 GHz
? 接口：SMA, male, jack
? 重量：400 g
交付內(nèi)容
XF-R 400-1磁場探頭 因較大的直徑（25mm）而擁有很高的靈敏度，允許在10cm以內(nèi)的距離測量模塊和設(shè)備。
XF-R 3-1型近場探頭： 用于高分辨率直接檢測組件上，譬如IC的引腳或外殼、布線、旁路電容器和電磁兼容性（EMC）元件等區(qū)域的射頻磁場。
XF-B 3-1型磁場探頭的測量線圈相對垂直于探頭柄。當(dāng)探頭豎直放置到電路板上時(shí)，其測量線圈直接平放在電路板的表面上。由此就能夠測量到印刷電路板表面上很難達(dá)到的一些位置，如開關(guān)調(diào)節(jié)器的大元件之間的位置。
XF-E 10型電場探頭底面的電極僅有約0.2mm寬，用于定位最小的電場，例如0.1mm寬的導(dǎo)線、高針數(shù)集成電路的單個(gè)引腳等發(fā)射的電場。測試時(shí)將該電場探頭放置在受測物體上。
XF-U 2.5-1型磁場探頭是一個(gè)近場探頭，用于選擇性測量導(dǎo)線、SMD組件和IC引腳中的高頻電流。這個(gè)探頭有一個(gè)大約0.5mm寬的磁場敏感缺口，測量時(shí)將這個(gè)缺口放在布線、IC或者電容器的連接點(diǎn)上。
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RF1 set 近場探頭組
RF1 set
RF 1近場探頭組包含4個(gè)無源近場探頭，用于在研發(fā)階段測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF 1探頭組的探頭，可以實(shí)現(xiàn)緊貼電子模塊測量，比如貼近單個(gè)IC引腳、導(dǎo)線、元器件及其連接點(diǎn)測量，從而定位干擾信號源。通過相應(yīng)地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部沒有安裝50Ω終端電阻。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
25KHz單通道光纖探頭
A100-1 set
A100-1把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設(shè)備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時(shí)，該系統(tǒng)特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進(jìn)行給定的調(diào)制時(shí)會(huì)對模擬信號產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統(tǒng)能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個(gè)傳感器，這個(gè)傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
25KHz雙通道光纖探頭
A100-2
A100-2把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設(shè)備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時(shí)，該系統(tǒng)特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進(jìn)行給定的調(diào)制時(shí)會(huì)對模擬信號產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統(tǒng)能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個(gè)傳感器，這個(gè)傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
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