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ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀
ICS 105 IC set
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ICS 105型集成電路掃描儀，可對集成電路和小型組件進(jìn)行高頻近場測量。根據(jù)使用的探頭情況，可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內(nèi)對磁場或電場進(jìn)行測量，并在電腦上顯示測量結(jié)果。此外，探頭可自動旋轉(zhuǎn)以確定磁場的準(zhǔn)確方向?？蛇x的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內(nèi)的測量，空間分辨率可達(dá) 50μm。
廠家
.
產(chǎn)品分類
主要技術(shù)參數(shù)：
- 電源電壓：110V/230V
- 掃描范圍：(50*50m*50)mm/α-旋轉(zhuǎn)±180°
- 定位精度：(10*10*10)μm/α-旋轉(zhuǎn)1°
- 定位速度：(10*10*5)mm/s/α-旋轉(zhuǎn)90°/s
- 接口：USB
- 重量：23kg
- 尺寸：(350*400*420)mm
相關(guān)產(chǎn)品
RF1 set 近場探頭組
RF1 set
RF 1近場探頭組包含4個無源近場探頭，用于在研發(fā)階段測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF 1探頭組的探頭，可以實(shí)現(xiàn)緊貼電子模塊測量，比如貼近單個IC引腳、導(dǎo)線、元器件及其連接點(diǎn)測量，從而定位干擾信號源。通過相應(yīng)地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部沒有安裝50Ω終端電阻。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
25KHz單通道光纖探頭
A100-1 set
A100-1把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設(shè)備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統(tǒng)特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進(jìn)行給定的調(diào)制時會對模擬信號產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統(tǒng)能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
25KHz雙通道光纖探頭
A100-2
A100-2把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設(shè)備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統(tǒng)特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進(jìn)行給定的調(diào)制時會對模擬信號產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統(tǒng)能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
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