首頁 熱門產品 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環(huán)境試驗裝置 市場資訊 服務 技術資源 合作品牌 咨詢熱線: 021-51001982 搜索下列指定分類 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環(huán)境試驗裝置 首頁 測試與儀器 探針臺 探針 探針 GGB ST SERIES ST SERIES 點擊詳情 GGB Industries, Inc. 提供的 ST SERIES探頭尖端由直徑為 0.020 英寸(0.51 毫米)的實心鎢軸精密制成,這些耐用的 1.5 英寸長實心鎢軸探頭尖端用于大多數標準微定位器,用于探測集成電路、焊盤或線路。 【廠家】 GGB Industries Inc 【產品分類】 測試與儀器 - 探針臺 - 探針 GGB T-4 SERIES T-4 SERIES 點擊詳情 T-4 尖端用于大多數標準商用微定位器,用于探測集成電路、焊盤或線路,每個T-4尖端使用22、35、60、125 或 12 微米直徑鎢絲。 【廠家】 GGB Industries Inc 【產品分類】 測試與儀器 - 探針臺 - 探針 GGB DIFFERENTIAL CALIBRATION SUBSTRATE 差分校準基板 點擊詳情 GGB Industries, Inc. 的差分校準基板系列允許用戶在探頭尖端校準任何 GGB Industries, Inc. 的微波 Picoprobe?系列探頭。 【廠家】 GGB Industries Inc 【產品分類】 測試與儀器 - 探針臺 - 探針 1234 合作品牌 熱線電話 021-51001982 關注我們 收起 郵件訂閱 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環(huán)境試驗裝置 提交 數據加載中,請稍后...