
近場掃描測量設(shè)備
在設(shè)計(jì)的早期階段使用 EMC 掃描儀,您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產(chǎn)品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。
光纖探頭
OB 100 set
100KHz-50MHz近場探頭組
LF1 set
LF 1近場探頭組包含4個(gè)屏蔽無源近場探頭,用于在研發(fā)階段測量電子模塊上長波、中波和短波區(qū)的射頻磁場。使用LF 1探頭組的探頭,可以逐步定位集成電路上的干擾放射源。首先使用探頭LF-R 400從遠(yuǎn)距離探測模塊的干擾發(fā)射情況,接下來再用更高分辨率的探頭LF-B 3、 LF-U 5和LF-U 2.5對(duì)干擾源進(jìn)行更精確的定位。采用這些探頭可以測量單個(gè)引腳、較大元件和結(jié)構(gòu)件。
這些近場探頭小巧輕便,并采用外皮電流衰減和電屏蔽設(shè)計(jì)。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場探頭的內(nèi)部沒有50Ω的終端阻抗。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
30MHz-3GHz近場探頭組
RF2 set
RF 2近場探頭組包含4個(gè)無源磁場探頭,用于在研發(fā)階段測量電子模塊上的磁場,頻率范圍為30MHz到3GHz。使用RF 2探頭組的探頭,可以逐步定位模塊上高頻磁場的干擾發(fā)射源。首先用探頭LF-R 400-1和RF-R 50-1從遠(yuǎn)距離查找模塊的干擾放射源,然后再用更高分辨率的探頭LF-B 3-2和LF-U 5-2對(duì)干擾源進(jìn)行更精確的定位。
通過相應(yīng)地操作近場探頭,能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便,并具備外皮電流衰減和電屏蔽。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部沒有安裝50Ω終端電阻。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
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