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近場掃描測量設(shè)備
在設(shè)計的早期階段使用 EMC 掃描儀，您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產(chǎn)品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。
30MHz-3GHz電場探頭
RF-E 02
RF-E 02型近場探頭用于測量總線結(jié)構(gòu)、較大的元器件或者供電表面產(chǎn)生的耦合電場。探頭下方的電極面積大約是2 cm x 5 cm。該探頭用于在距離模塊1cm到2 cm的位置檢測。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
1GHz-3GHz電場探頭
RF-E 03
RF-E 03探頭底部的電極約為4x4mm，適合于定位較小的電場源，例如導線、集成電路板上的單個元器件。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
30MHz-3GHz電場探頭
RF-E 04
RF-E 04型探頭用于檢測由時鐘線和IC表面產(chǎn)生的電場，其靈敏度允許在一定的距離（0.5mm到10mm）檢測電子模塊的電場。
【廠家】 .
【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設(shè)備
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