首頁 熱門產(chǎn)品 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環(huán)境試驗裝置 市場資訊 服務(wù) 技術(shù)資源 合作品牌 咨詢熱線: 021-51001982 搜索下列指定分類 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環(huán)境試驗裝置 首頁 測試與儀器 電磁兼容測試 EMS射頻抗擾度測試設(shè)備 EMS射頻抗擾度測試設(shè)備 30MMHz~200MHz 電磁去耦鉗 CMAD 20B 點擊詳情 CMAD 20B電磁去耦鉗 (Common Mode Absorption Device)符合CISPR 16-1-4,其用途在CISPR 16-2-3和CISPR 11中有定義。由于共模干擾電流會引起測量重復(fù)性變差。CMAD 20B用于抑制共模電流,改進頻率范圍為30~200MHz的EMI測量的重復(fù)性。 【廠家】 . 【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - EMS射頻抗擾度測試設(shè)備 150kHz~1000MHz 電磁去耦鉗 FT 801 點擊詳情 FT 801用作附加去耦網(wǎng)絡(luò),用于根據(jù) IEC/EN 61000-4-6 使用電磁鉗注入方法進行射頻傳導(dǎo)抗擾度測試。 除被測電纜外,它應(yīng)插入在 EUT 和 AE 之間的所有電纜上。 FT 801 可防止施加到 EUT 的測試信號影響其他未進行測試的設(shè)備、設(shè)備或系統(tǒng),并提高測試結(jié)果的再現(xiàn)性。FT 801 的大內(nèi)徑允許使用連接器穿線電纜。 【廠家】 . 【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - EMS射頻抗擾度測試設(shè)備 KEMZ 801A電磁注入鉗 KEMZ 801A 點擊詳情 EM電磁注入鉗通過電感耦合和電容耦合的方式注入干擾信號。 IEC/EN 61000-4-6的標(biāo)準(zhǔn)附錄A規(guī)定了電磁夾具,并提供了關(guān)于鉗位特性附加信息。 KEMZ 801A符合該標(biāo)準(zhǔn)。 【廠家】 . 【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - EMS射頻抗擾度測試設(shè)備 3456 合作品牌 熱線電話 021-51001982 關(guān)注我們 收起 郵件訂閱 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環(huán)境試驗裝置 提交 數(shù)據(jù)加載中,請稍后...