EB系列高性價(jià)比探針臺(tái)
EB-4/EB-6/EB-8/EB-12
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廠家
臺(tái)灣弈葉
產(chǎn)品分類
一、顯微鏡操控規(guī)格
- 顯微鏡后側(cè)有X/Y軸調(diào)節(jié)小搖輪,可調(diào)節(jié)顯微鏡在x-y方向的移動(dòng),移動(dòng)范圍2"X2",精度1μm。
- 顯微鏡Z軸帶有調(diào)焦粗旋鈕和細(xì)旋鈕,粗旋鈕方便快速調(diào)焦,細(xì)旋鈕方便精確調(diào)焦,使顯微鏡在Z軸方向行程50.8mm,移動(dòng)精度10μm。
二、臺(tái)面規(guī)格
- 探針臺(tái)臺(tái)面平整度:5μm。
- 探針臺(tái)臺(tái)面為固定臺(tái)面。
三、卡盤(載物臺(tái),即圖中的chuck)規(guī)格
- 6" 卡盤,卡盤平整度:5μm,采用真空吸附方式吸附,帶真空吸附孔,中心孔徑250μm-1mm(可根據(jù)客戶需求定制孔徑大?。?,最小可以吸住尺寸為0.3mmX0.3mm,最大能夠吸住尺寸為6"X6"。
- 卡盤可360度旋轉(zhuǎn),旋轉(zhuǎn)角度可微調(diào),微調(diào)精度為0.1度,帶角度鎖定旋鈕。
- 卡盤座有小搖桿,提起90度后,可以使卡盤快速線性上升4mm,在做wafer點(diǎn)測時(shí)方便快速移動(dòng)點(diǎn)測位置,同時(shí)做普通die或者decap后芯片點(diǎn)測時(shí),方便快速更換樣品。
- 卡盤X,Y軸調(diào)節(jié)旋鈕可以控制卡盤做X-Y方向的移動(dòng),移動(dòng)范圍為6"X6",移動(dòng)精度為10μm,為方便點(diǎn)測的穩(wěn)定性,帶有鎖住功能如果點(diǎn)測6"wafer的時(shí)候,可以保證6"wafer的每一點(diǎn)都能夠點(diǎn)測到。
四、性能
- 真空吸附卡盤:對(duì)應(yīng)可選4",6",8",12"產(chǎn)品
- 卡盤X-Y方向精確線性移動(dòng)行程:6"-6"
- 線性無回差調(diào)節(jié)
- 卡盤上/下移動(dòng)行程:4mm
- 4", 6", 8", 12" 晶圓(晶圓尺寸)
- 樣品尺寸: 5x5mm ~ 4" 6", 8", 12"
- 卡盤平整度: 10um
- 卡盤旋轉(zhuǎn)角度:0~360°
五、附件
- 顯微鏡傾仰裝置
- 鍍金卡盤
- 射頻測試探頭/電纜
- 有源探頭
- 低電流/電容測試
- 高壓測試
- 激光修復(fù)
- CCD/數(shù)字相機(jī),USB接口
- 探針卡/封裝/PCB板夾具
- 加熱裝置
- 防震桌
- 屏蔽箱
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