? ? ????GGB?Industries MULTI-CONTACT WEDGE?可根據(jù)您的電路進(jìn)行定制配置，從而使芯片的設(shè)計(jì)更加靈活。四個(gè)楔塊可以同時(shí)用于探測整個(gè)芯片。
多觸點(diǎn)楔塊采用單獨(dú)彈簧加載的鈹銅尖端，即使在探測非平面結(jié)構(gòu)時(shí)也能提供可靠的觸點(diǎn)。這種可靠的低電阻觸點(diǎn)是提供高可重復(fù)測量的關(guān)鍵之一。多觸點(diǎn)楔塊還可以直接查看探頭尖端，以實(shí)現(xiàn)精確定位。
? ? ????當(dāng)與標(biāo)準(zhǔn)微波探針臺一起使用時(shí)，楔塊可以首先定位到任何微波校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，然后移動到要測試的MMIC或模塊上的位置。
? ? ????楔塊上的探測點(diǎn)甚至可以設(shè)置為不同的深度，以便可以成功探測多級模塊?？梢灾付?/span> 50 到 1250 微米的任何間距（尖端間距），更大間距的探頭，可根據(jù)需要的間距尺寸制定。探頭可以配置接地-信號-接地 （G，S，G）、接地信號 （G，S） 或信號接地 （S，G）
針尖封裝。
? ??????通過母 K 連接器連接到 40A 型，并與 SMA 和 3.5mm 連接器兼容。通過一個(gè) 2.4mm母連接器連接到 50A 型。與 67A 型的連接是通過母 V 型連接器實(shí)現(xiàn)的，并與 2.4mm 連接器兼容。通過 W （1.1mm） 或 1.0 mm 連接器連接到 110A 型。
? ? ????GGB Industries， Inc. 的 MCW-14 和 MCW-26 多觸點(diǎn)楔塊在測試中，是為電路提供直流或電源的靈活替代方案。每個(gè)楔塊都是根據(jù)您的電路布局定制的，并為電容器提供三個(gè)替代位置，直接查看探針以準(zhǔn)確定位，并且可以配置14引腳或26引腳連接器。該連接器由位于 0.025 英寸中心的雙排 0.1 英寸方形引腳組成，為用戶提供了一個(gè)靈活而有用的連接點(diǎn)。
? ? ????探頭針可以設(shè)置為不同的深度，以便可以成功探測多級模塊。MCW-14 和 MCW-26 多觸點(diǎn)楔塊的獨(dú)特設(shè)計(jì)確保了可靠的接觸，即使在探測非平面結(jié)構(gòu)時(shí)也是如此，并且在與任何標(biāo)準(zhǔn)微波探針臺一起使用時(shí)都可以輕松定位。
特征
- 耐用
- DC 至 40、50、67 或 110 GHz 混合射頻和直流
- 觸點(diǎn)：每側(cè)最多 9 個(gè)射頻探頭
- 用于MMIC或模塊探測
- 單獨(dú)彈簧加載觸點(diǎn)
- 廉價(jià)、快速、定制制造
- 根據(jù)您的布局定制的每個(gè)楔形
- 獲得專利的同軸設(shè)計(jì)
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